本书对光电尺寸检测所涉及的关键技术进行了深入的研究, 建立了相应的数学模型, 并对系统精度进行了分析; 列举了典型实例, 涉及内容均得到实际应用, 经证明设计合理、分析正确。
| 馆藏号 | 馆藏地名称 | 索书号 | 文献状态 | |
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| 001430380 | 西校理科 （西区图书馆主楼五楼） 定位 | TP274 2871 | 在馆 |
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